廠牌：Santec
型號：TSL-580

產品特色：
◉ TSL-580在連續波(CW)模式下實現超過+15 dBm(30 mW)的峰值光輸出功率，高於以往型號。即使在光功率不足的應用情境中(例如高插入損耗光元件測試或矽光子表面光柵耦合結構特性)，也能實現穩定測量。透過重新設計控制電路，TSL-580實現20 kHz窄線寬，顯著降低極窄光譜區域測量中的雜訊影響，可用於量子光學研究及高精度感測應用。透過優化驅動系統，波長掃描線性度提升至約為上一代產品的兩倍，在光譜分析和感測應用中實現更穩定的掃描及更高的資料精度。
◉ 掃描速度最高可達200 nm/s，微調掃描範圍小至10 GHz，掃描線性度：＜5%(相比TSL-570提升一倍)。
◉ 波長解析度：0.1 pm。
◉ 輸出功率：≥ 15 dBm(峰值)。
◉ 信號與SSE比值：≥ 80 dB/nm，訊號雜訊比：≥ 90 dB/0.1 nm。